标准编号：GB/T 21006-2007，标准状态：现行。 本标准规定了两种方法，用于测定ＡＥＳ和ＸＰＳ谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。
| 英文名称： | Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>计算机>>L67计算机应用 |
| ICS分类： | 信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.70 信息技术在自然科学中的应
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： | ISO 21270:2004 IDT |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2007-07-31 |
| 实施日期： | 2008-03-01 |
| 首发日期： | 2007-07-31 |
| 提出单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院化学研究所、中国计量科学研究院 |
| 起草人： | 刘芬、邱丽美、赵良仲、王海、宋小平、沈电洪 |
| 计划单号： | 20068682-T-491 |
| 页数： | 16页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-03-01 |
本标准等同采用ISO21270:2004《表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性》(英文版)。
本标准等同翻译ISO21270:2004。为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改:
---用小数点符号.代替小数点符号,;
---用本标准代替本国际标准。
本标准附录A 为资料性附录。
本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院化学研究所、中国计量科学研究院。
本标准起草人:刘芬、邱丽美、赵良仲、王海、宋小平、沈电洪。
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
ISO 18115表面化学分析 词汇
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