标准编号：GB/T 25186-2010，标准状态：现行。 本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。
本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
| 英文名称： | Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials |
| 中标分类： | 化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： | IDT ISO 18114:2003 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-26 |
| 实施日期： | 2011-08-01 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 信息产业部专用材料质量监督检验中心 |
| 起草人： | 马农农、何友琴、何秀坤 |
| 页数： | 8页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
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