标准编号：GB/T 25185-2010，标准状态：现行。 本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
| 英文名称： | Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction |
| 中标分类： | 化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： | IDT ISO 19318:2004 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-26 |
| 实施日期： | 2011-08-01 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 北京师范大学分析测试中心 |
| 起草人： | 吴正龙 |
| 页数： | 16页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
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