标准编号：GB/T 25184-2010，标准状态：现行。 本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
| 英文名称： | Verification method for X-ray photoelectron spectrometers |
| 中标分类： | 化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-26 |
| 实施日期： | 2011-08-01 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会 |
| 起草单位： | 福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 |
| 起草人： | 王水菊、时海燕、丁训民 |
| 页数： | 28页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-08-01 |
请到 http://www.bzbz.net/search/ 搜索下载标准下载库的标准