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SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法 电子行业标准(SJ)

2012-08-19   发表:

标准编号:SJ 2657-1986,标准状态:现行。 本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。

英文名称: Mothod of molybdeuum spectral analysis
替代情况: SJ/Z 1320-1978
中标分类: 综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
采标情况: JIS H1401-79 ГОСТ 14315-74 NEQ
发布部门: 中华人民共和国电子工业部
发布日期: 1986-01-21
实施日期: 1986-10-01
归口单位: 电子工业部标准化研究所
起草单位: 电子工业部741厂、774厂
起草人: 李忠、王进学
页数: 6页
出版社: 电子工业出版社
出版日期: 1986-09-01
标准前页:

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