标准编号：SJ 2656-1986，标准状态：现行。 本标准适用于电子器件、电光源用钨材（粉、坏、杆、丝、带）、三氧化钨（不含添加剂）、钨酸及仲钨酸铵中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、铅、锡、钼、钛、锑、镉、砷、铜、铬等元素的测定。
| 英文名称： | Method for defermination of Tungsten by spectrometry |
| 替代情况： | SJ/Z 1319-1978 |
| 中标分类： | 综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理 |
| 采标情况： | JIS H1401-79 ГОСТ 14315-74 NEQ |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1986-01-21 |
| 实施日期： | 1986-10-01 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部744厂 |
| 起草人： | 藏明堂、王淑敏 |
| 页数： | 7页 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1986-09-01 |
| 标准前页： |
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