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SJ 20011-1992 半导体分立器件 GP、GT和GCT级CS1型硅

2012-08-08   发表:

标准编号:SJ 20011-1992,标准状态:现行。 本标准规定了CS1型硅沟道结型场效应晶体管(以下简称器件)的详细要求该种器件按GJB33-85《半导体分立器件总规范》的规定提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。

英文名称: Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon N-channel deplition mode field-effect transistor of Type CS1 GP,GT and GCT classes
中标分类: 综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
发布部门: 中国电子工业总公司
发布日期: 1992-02-01
实施日期: 1992-05-01
提出单位: 中国电子工业总公司科技质量局
归口单位: 中国电子技术标准化研究所
起草单位: 中国电子技术标准化研究所
起草人: 王长福、吴志龙、张宗国、刘美英
页数: 11页
出版社: 电子工业出版社
出版日期: 1992-04-01
标准前页:
GB 4586-1984 场效应晶体管测试方法

GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸

GJB 33-1985 半导体分立器件总规范

GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法

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