标准编号：GB/T 18907-2002，标准状态：现行。 本标准规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本标准适用于各种金属与非金属晶体薄膜（包括粉末试样与萃取复型试样）的电子衍射分析。可分析的最小试样区直径为1 μm。应用电子衍射谱可以获得试样晶体对称性、点阵常数和布拉菲格式类型等数据。利用已知晶体薄膜的电子衍射谱可以测定透射电子显微镜的衍射常数。被分析试样区直径小于1 μm时，可参照执行。
| 英文名称： | Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： | 成像技术>>37.020 光学设备
计量学和测量、物理现象>>17.180光学和光学测量 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2002-12-05 |
| 实施日期： | 2003-05-01 |
| 首发日期： | 2002-12-05 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： | 北京科技大学材料物理与化学系、北京有色金属研究院测试所 |
| 起草人： | 柳得橹、刘安生 |
| 页数： | 平装16开， 页数：15， 字数：25千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2003-05-01 |
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