标准编号：GB/T 18904.4-2002，标准状态：现行。 IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系地目的试确定质量评定程序，尾这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件地一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半导体器件 第十部分 分立器件和集成电路总规范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半导体器件 第12部分 光电子器件分规范
| 英文名称： | Semiconductor devices-Part 12-4:Optoelectronic devices-Blank detail specification for pin-FETmoules with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L54半导体光敏器件 |
| ICS分类： | 电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 采标情况： | IEC 60747-12-4:1997,IDT |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2002-12-04 |
| 实施日期： | 2003-05-01 |
| 首发日期： | 2002-12-04 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所（CESI） |
| 起草人： | 赵英 |
| 页数： | 平装16开， 页数：13， 字数：19千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 书号： | 155066.1-19454 |
| 出版日期： | 2003-05-01 |
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