标准编号：GB/T 4589.1-2006，标准状态：现行。 本规范构成国际电工委员会电子器件质量评定体系的一部分。
本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。
本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序。
| 英文名称： | Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits |
| 替代情况： | 替代GB/T 4589.1-1989 |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： | 电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： | IEC 60747-10:1991 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2006-10-10 |
| 实施日期： | 2007-02-01 |
| 首发日期： | 1984-07-20 |
| 提出单位： | 信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 罗发明、陈裕昆、金毓铨 |
| 计划单号： | 20020213-T-339 |
| 页数： | 平装16开/页数：35/字数：63千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2007-02-01 |
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