标准编号：GB/T 20521-2006，标准状态：现行。 本部分适用于半导体传感器，它等同采用IEC 60747-14-1:2000《半导体器件 第14-1部分：半导体传感器－总则和分类》，本部分描述了有关传感器规范的基本条款，这些条款适用于由半导体材料制造的传感器也适用于由其他材料（例如绝缘或铁电材料）所制造的传感器。
| 英文名称： | Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： | 电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： | IEC 60747-14-1:2000 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2006-08-23 |
| 实施日期： | 2007-02-01 |
| 首发日期： | 2006-08-23 |
| 提出单位： | 信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 张秋、陈勤 |
| 计划单号： | 20030160-T-339 |
| 页数： | 平装16开/页数：12/字数：11 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2007-02-01 |
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