标准编号：YS/T 1160-2016 ，标准状态：即将实施。YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 详细内容。 本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%。
| 标准状态： | 即将实施 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2016-07-11 |
| 实施日期： | 2017-01-01 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
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