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YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法

2016-08-15   发表:

标准编号:YS/T 26-2016 ,标准状态:即将实施。YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法 详细内容。 本标准规定了硅片边缘轮廓(包含切口)的检验方法。

本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓(包含切口),砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。

标准状态: 即将实施
替代情况: 替代YS/T 26-1992
发布部门: 中华人民共和国工业和信息化部
发布日期: 2016-07-11
实施日期: 2017-01-01
出版社: 中国标准出版社
出版日期: 2017-01-01

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