标准编号：GB 5594.6-1985，标准状态：现行。 本标准适用于电子器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。
| 英文名称： | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for chemical durability |
| 中标分类： | >>>>L32 |
| ICS分类： | 31.030 |
| UDC分类： | 621.315.612;621.382/.387;620.1 |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1985-11-27 |
| 实施日期： | 1986-12-01 |
| 首发日期： | 1985-11-27 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 提出单位： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 上海无线电一厂 |
| 起草人： | 蔡郁辉 |
| 页数： | 2页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
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