标准编号：GB 9534-1988，标准状态：现行。 本标准采用光学腔，即半共集准光腔作为测试腔体来测试固体电介质的介电特性。本标准适用于可加工成片状的固体电介质材料。
| 英文名称： | Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at millimeter wave frequencies using Quasi-Optic cavity technique |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| ICS分类： | 电气工程>>绝缘流体>>29.040.20绝缘气体 |
| 采标情况： | IEC 377-2-1977,REF |
| 发布部门： | 信息产业部（电子） |
| 发布日期： | 1988-06-28 |
| 实施日期： | 1989-02-01 |
| 首发日期： | 1988-06-28 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 上海科技大学 |
| 页数： | 9页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1989-02-01 |
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