标准编号：GB/T 10262-1988，标准状态：现行。 本标准规定了利用电离辐射反散射原理，在金属或非金属基体上对其表面镀(涂)层的厚度进行非破坏性测量的β反散射厚度计的基本性能与其分级，设计要求和性能测量方法与步骤。本标准适用于小面积镀(涂)层β反散射厚度计。本标准也适用于微处理机作为数据处理系统，其软、硬件的技术要求，可由制造厂自行制订企业标准，但β反散射测量的各种要求，应符合本标准规定。
| 英文名称： | Beta backscattering thickness meter for small area of plating (coating) |
| 中标分类： | 能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F83反应堆、核电厂安全配电设备 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量 |
| UDC分类： | 681.2;621.793 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1988-01-02 |
| 实施日期： | 1989-10-01 |
| 首发日期： | 1988-12-30 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 归口单位： | 全国核仪器仪表标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国防科学技术工业委员会 |
| 起草单位： | 西安核仪器厂 |
| 页数： | 平装16开， 页数：11， 字数：18000 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
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