标准编号：GB/T 14620-1993，标准状态：现行。 本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片。
| 英文名称： | Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits |
| 中标分类： | >>>>L32 |
| ICS分类： | 电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| UDC分类： | 621.315.612 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1993-09-03 |
| 实施日期： | 1993-01-02 |
| 首发日期： | 1993-09-03 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 国营七九九厂 |
| 页数： | 平装16开， 页数：7， 字数：10千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 书号： | 155066.1-10700 |
| 出版日期： | 2004-08-22 |
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