标准编号：JB/T 6842-1993，标准状态：现行。 本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。本标准适用于扫描电镜主机性能的试验。
| 替代情况： | ZB Y340-85 |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布部门： | 中华人民共和国机械工业部 |
| 发布日期： | 1993-07-09 |
| 实施日期： | 1994-01-01 |
| 提出单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 归口单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 起草单位： | 上海电子光学技术研究所 |
| 批文号： | 机械科[1993]317号 |
| 页数： | 11页 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 1994-01-01 |
| 标准前页： |
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