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SJ 20635-1997 半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法 电子行业

2012-07-14   发表:

标准编号:SJ 20635-1997,标准状态:现行。

英文名称: Test method for residual impurities concentration in microzone of semi-insulating gallium arsenide
中标分类: >>>>L5971
发布日期: 1997-06-17
实施日期: 1997-10-01
页数: 15页
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