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SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法 电子行业标准(SJ)

2012-07-01   发表:

标准编号:SJ 20785-2000,标准状态:现行。 本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。

本标准适用于超辐射发光二极管组件(以下简称“组件”)光电参数测试。

英文名称: Measuring methods for super luminescent diode module
中标分类: >>>>L5980
发布部门: 中华人民共和国信息产业部
发布日期: 2000-10-20
实施日期: 2000-10-20
归口单位: 中国电子技术标准化研究所
起草单位: 电子工业部第44研究所
起草人: 魏进、易向阳、常利发、李春芳
页数: 28页
出版社: 工业电子出版社
出版日期: 2004-04-19
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GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

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