标准编号:GB/T 18735-2002,标准状态:现行。 本标准规定了分析电镜(AEM/EDS即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜——X射线能谱仪,测量比例因子(K A-B)所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
英文名称: | General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS) |
中标分类: | 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
ICS分类: | 成像技术>>37.020光学设备 |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
发布日期: | 2002-05-22 |
实施日期: | 2002-12-01 |
首发日期: | 2002-05-22 |
复审日期: | 2004-10-14 |
提出单位: | 全国微束分析标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国微束分析标准化技术委员会 |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
起草单位: | 武汉理工大学、中科院广州地球化学研究所 |
起草人: | 孙振亚、刘永康 |
页数: | 平装16开, 页数:6, 字数:10千字 |
出版社: | 中国标准出版社 |
书号: | 155066.1-19035 |
出版日期: | 2002-12-01 |
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