标准编号：GB/T 15245-2002，标准状态：现行。 本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。
| 英文名称： | Quantitative analysis of rare earth element(REE) oxides by electron probe microanalysis(EPMA) |
| 替代情况： | GB/T 15245-1994 |
| 中标分类： | 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： | 计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.30光学测量仪器 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2002-11-11 |
| 实施日期： | 2003-06-01 |
| 首发日期： | 1994-10-17 |
| 复审日期： | 2004-10-14 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： | 桂林矿产地质研究院 |
| 起草人： | 庄世杰 |
| 页数： | 平装16开， 页数：9， 字数：15千字 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 书号： | 155066.1-19237 |
| 出版日期： | 2003-06-01 |
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