标准编号：SJ 20954-2006，标准状态：现行。 本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。
| 英文名称： | Integrated circuits latch-up test |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布日期： | 2006-08-07 |
| 实施日期： | 2006-12-30 |
| 页数： | 15页 |
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SJ 20954-2006 集成电路锁定试验 电子行业标准(SJ)
2012-06-10 发表:
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