GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

英文名称：  Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction 替代情况：  替代GB/T 20724-2006 中标分类：  仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器  ICS分类：  化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方 发布部门：  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布日期：  2021-12-31 实施日期：  2022-07-01 提出单位：  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) 归口单位：  全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) 起草单位：  北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院 起草人：  柳得橹、娄艳芝 页数：  24页 出版社：  中国标准出版社 出版日期：  2021-12-01

请到 http://www.bzbz.net/search/ 搜索 下载标准下载库的标准