本部分起草单位:信息产业部电子第五研究所。
本部分主要起草人:伍伟雄、谢晨浩、蔡锦文、张孝华、罗军、薛秀美、孔玉梅、梁为旺、罗国良。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。下列文件中的条款通过GB/T5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T2423.1 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验A:低温(GB/T2423.1-2001,idtIEC60068-2-1:1990)
GB/T2423.2 电工电子产品环境试验 第2 部分:试验方法 试验B:高温(GB/T2423.2-2001,idtIEC60068-2-2:1974)
GB/T2423.22 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化(GB/T2423.22-2002,IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB/T2424.5 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认(GB/T2424.5-2006,IEC60068-3-5:2001,IDT)
GB/T5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GB/T16839.1 热电偶 第1部分:分度表(GB/T16839.1-1997,idtIEC60584-1:1995)
IEC60751 工业铂电阻敏感元件
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