标准编号：GB/T 17554.7-2010，标准状态：现行。 GB/T17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。
GB/T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。
除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定义的邻近式卡。
| 英文名称： | Identification cards—Test methods—Part 7:Vicinity cards |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术>>计算机>>L64数据媒体 |
| ICS分类： | 信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.15识别卡和有关装置 |
| 采标情况： | ISO/IEC 10373-7:2008,MOD |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-12-01 |
| 实施日期： | 2011-04-01 |
| 提出单位： | 全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28) |
| 归口单位： | 全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28) |
| 主管部门： | 全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28) |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司 |
| 起草人： | 冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊 |
| 页数： | 28页 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-04-01 |
GB/T17554在《识别卡 测试方法》总标题下,目前分为如下7个部分:
———第1部分:一般特性测试;
———第2部分:磁条卡;
———第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备;
———第4部分:无触点集成电路卡;
———第5部分:光记忆卡;
———第6部分:接近式卡;
———第7部分:邻近式卡。
本部分为GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用国际标准ISO/IEC10373-7:2008《识别卡 测试方法 第7部分:邻近式卡》(英文版)。
本部分与ISO/IEC10373-7:2008相比,增加和修改了下列内容,并在相应条款的外侧页边空白处用单垂线标示:
a) 为了使标准更加清晰易懂,增加了缩略语PCB;
b) 为了便于引用,8.1.2做了编辑性修改;
c) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VICC不能正常工作的情况,增加第9章工作场强测试。
本部分的附录A、附录C和附录D是规范性附录。
本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。
本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。
本部分主要起草人:冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。下列文件中的条款通过GB/T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T14916 识别卡 物理特性(GB/T14916—2006,ISO/IEC7810:2003,IDT)
GB/T17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(GB/T17626.2—2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T22351.1 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性(GB/T22351.1—2008,ISO/IEC15693-1:2000,IDT)
GB/T22351.2—2010 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分:空中接口和初始化(ISO/IEC15693-2:2000,IDT)
GB/T22351.3 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3 部分:防冲突和传输协议(GB/T22351.3—2008,ISO/IEC15693-3:2001,IDT)
ISBN92-67-10188-9 对度量不确定性表达的指南,ISO,1993版
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